Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies by: Alberto Bosio Luigi Dilillo Patrick Girard Serge Pravossoudovitch Arnaud Virazel Modern electronics depends on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and d...
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | Bosio, Alberto, 19..-...., informaticien, Dilillo, Luigi (Autor), Girard, Patrick (Autor), Pravossoudovitch, Serge (Autor), Virazel, Arnaud (Autor) |
|---|---|
| Médium: | Livre numérique |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
New York, NY :
Springer US
2010.
Cham : Springer Nature |
| On-line přístup: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Poznámka: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781441909374 • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781441909398 • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781489983145 |
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