Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies by: Alberto Bosio Luigi Dilillo Patrick Girard Serge Pravossoudovitch Arnaud Virazel Modern electronics depends on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and d...
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York, NY :
Springer US
2010.
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781441909374 • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781441909398 • Advanced Test Methods for SRAMs, Texte imprimé, 9781489983145 |