Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield
Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost,...
Salvato in:
| Autori principali: | , |
|---|---|
| Natura: | Livre numérique |
| Lingua: | Anglais |
| Pubblicazione: |
New York, NY :
Springer New York
2013.
Cham : Springer Nature |
| Accesso online: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Nanometer Variation-Tolerant SRAM, Texte imprimé, 9781461417484 • Nanometer Variation-Tolerant SRAM, Texte imprimé, 9781461417507 • Nanometer Variation-Tolerant SRAM, Texte imprimé, 9781493902200 |