Fault-tolerance techniques for SRAM-based FPGAs
Fault-tolerance in integrated circuits is not an exclusive concern regarding space designers or highly-reliable application engineers. Rather, designers of next generation products must cope with reduced margin noises due to technological advances. The continuous evolution of the fabrication technol...
שמור ב:
| מחברים אחרים: | , , |
|---|---|
| פורמט: | Livre numérique |
| שפה: | Anglais |
| יצא לאור: |
New York, NY :
Springer US : Imprint: Springer
[20..].
Cham : Springer Nature |
| סדרה: | Frontiers in Electronic Testing
32 |
| גישה מקוונת: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| הערה: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Fault-tolerance techniques for SRAM-based FPGAs, by Fernanda Lima Kastensmidt,... Luigi Carro,... and Ricardo Reis,..., 2006, Dordrecht, Springer, 1 vol. (XV-183 p.), Frontiers in electronic testing, 0-387-31068-1 |