Applied scanning probe methods. XIII, Characterization
Crack initiation and growth are key issues when it comes to the mechanical reliab- ity of microelectronic devices and microelectromechanical systems (MEMS). Es- cially in organic electronics where exible substrates will play a major role these issues will become of utmost importance. It is therefore...
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| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Édition: | 1st ed. 2009. |
| Collection: | NanoScience and Technology
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| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Applied scanning probe methods XII, characterization, [edited by] Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Berlin, Springer, 2009, 1 vol. (LV-224 p.), Nanoscience and technology, 978-3-540-85038-0 • Applied Scanning Probe Methods XII, Texte imprimé, 9783642098703 • Applied Scanning Probe Methods XII, Texte imprimé, 9783540873020 |