Applied scanning probe methods. IX, Characterization

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VII...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Bhushan, Bharat
Autres auteurs: Fuchs, Harald (Directeur de la publication), Tomitori, Masahiko (Directeur de la publication)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg [20..].
Cham : Springer Nature
Édition:1st ed. 2008.
Collection:NanoScience and Technology
Accès en ligne:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Note: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Applied scanning probe methods IX, characterization, Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori, Berlin, Springer, 2008, 1 vol. (LIX-387 p.), Nanoscience and technology, 978-3-540-74082-7
• Applied Scanning Probe Methods IX, Texte imprimé, 9783642093418
• Applied Scanning Probe Methods IX, Texte imprimé, 9783540841975

En ligne

Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL