Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various mater...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | Livre numérique |
| اللغة: | Anglais |
| منشور في: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg : Springer e-books
[20..].
Cham : Springer Nature |
| سلاسل: | NanoScience and Technology
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| الوصول للمادة أونلاين: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| ملاحظة: |
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| Edition sous un autre format: | • Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology, 2, Bharat Bhushan, editor, Berlin, Springer-Verlag, 2011, 1 vol. (XXVI-816 p.), Nanoscience and technology, 978-3-642-10496-1 |