Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various mater...
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| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Édition: | 1st ed. 2010. |
| Collection: | NanoScience and Technology
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| Sujets: | |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
With 462 figures L'impression du document génère 943 p. Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology, [1], Bharat Bhushan, editor, Berlin, Springer-Verlag, 2010, 1 vol. (XXX-956 p.), Nanoscience and technology, 978-3-642-03534-0 |