Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various mater...

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Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Bhushan, Bharat, 1949- (Éditeur intellectuel)
Format: Livre numérique
Sprog:Anglais
Udgivet: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Springer e-books [20..].
Cham : Springer Nature
Serier:NanoScience and Technology
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Kommentar: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology, 2, Bharat Bhushan, editor, Berlin, Springer-Verlag, 2011, 1 vol. (XXVI-816 p.), Nanoscience and technology, 978-3-642-10496-1
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506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective 
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