Efficient test methodologies for high-speed serial links
With the increasing demand for higher data bandwidth, communication systems data rates have reached the multi-gigahertz range and even beyond. Advances in semiconductor technologies have accelerated the adoption of high-speed serial interfaces, such as PCI-Express, Serial-ATA, and XAUI, in order to...
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| Auteurs principaux: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Dordrecht :
Springer Netherlands
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Édition: | 1st ed. 2010. |
| Collection: | Lecture Notes in Electrical Engineering
51 |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links, Texte imprimé, 9789048134427 |