ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies
The challenges associated with the design and implementation of Electrostatic Discharge (ESD) protection circuits are becoming increasingly complex as technology is scaled well into nano-metric regime. Traditional approaches of ESD design may not be adequate as the ESD damages occur at successively...
Guardat en:
| Autors principals: | Semenov, Oleg, Sachdev, Manoj, 19..- (Autor), Sarbishaei, Hossein, 19..- (Autor) |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
Dordrecht :
Springer Netherlands : Imprint: Springer
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accés en línia: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
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| Edition sous un autre format: | • ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies, Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev, [S.l.], Springer, 2008, 1 vol. (xv-227 p.), 978-1-4020-8300-6 |
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