ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies

The challenges associated with the design and implementation of Electrostatic Discharge (ESD) protection circuits are becoming increasingly complex as technology is scaled well into nano-metric regime. Traditional approaches of ESD design may not be adequate as the ESD damages occur at successively...

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Autori principali: Semenov, Oleg, Sachdev, Manoj, 19..- (Autore), Sarbishaei, Hossein, 19..- (Autore)
Natura: Livre numérique
Lingua:Anglais
Pubblicazione: Dordrecht : Springer Netherlands : Imprint: Springer [20..].
Cham : Springer Nature
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Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies, Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev, [S.l.], Springer, 2008, 1 vol. (xv-227 p.), 978-1-4020-8300-6

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