Etude des nano-bulles induites par implantation de gaz rares dans l'oxyde de silicium : applications

Le SiO2 ayant une constante diélectrique de 4 est utilisé dans les interconnexions des circuits intégrés. Cependant, l intégration poussée, dictée par la loi de Moore, conduit à un besoin de nouveaux diélectriques avec des constantes faibles. Ces types de matériaux peuvent être obtenus, par implanta...

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Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Assaf-Reda, Hanan, 1981-
Diğer Yazarlar: Ntsoenzok, Esidor, 19..- (Tez danışmanı), Ruault, Marie-Odile (Tez danışmanı)
Materyal Türü: Thèse et Mémoire papier
Dil:Français
Baskı/Yayın Bilgisi: [S.l.] : [s.n.] 2006.
Konular:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Variante du titre:Study of the nano-bubbles induces by rare gas implantation in silicon oxide :, applications
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245 1 0 |a Etude des nano-bulles induites par implantation de gaz rares dans l'oxyde de silicium :  |b applications   |c par Hanan Assaf-Reda ; [sous la dir. de] M. E. Ntsoenzok,... [et de] Mme M.-O. Ruault,... 
260 |a [S.l.] :  |b [s.n.],  |c 2006. 
300 |a 1 vol. (184 p.) :  |b ill. ;  |c 30 cm. 
502 |a Thèse de doctorat. Physique des matériaux et des surfaces. Orléans. 2006 
504 |a Notes bibliogr. 
520 |a Le SiO2 ayant une constante diélectrique de 4 est utilisé dans les interconnexions des circuits intégrés. Cependant, l intégration poussée, dictée par la loi de Moore, conduit à un besoin de nouveaux diélectriques avec des constantes faibles. Ces types de matériaux peuvent être obtenus, par implantation d un gaz rare dans le SiO2. Cette méthode qui permet de créer des bulles/cavités (pores) dans le volume du SiO2 n avait pas encore fait l objet d études spécifiques avant ce travail de thèse. Premièrement, il apparaissait donc essentiel de s intéresser aux bulles/cavités créées par implantation d un gaz rare dans le SiO2 afin de trouver les paramètres favorables à leur formation et leur stabilité dans ce dernier. A cette fin, nous avons corrélé des observations en microscopie électronique à transmission, des dosages des ions effectués grâce à des méthodes d analyse nucléaires et des études des défauts ponctuels à l aide de la spectroscopie d annihilation de positons. Nous avons ainsi pu montrer que pour former des bulles/cavités dans le SiO2, il faut utiliser un ion lourd de type Kr ou Xe. Un ion léger comme l He ou le Ne n est pas apte à créer des bulles dans le SiO2. De plus, si l on veut des bulles thermiquement stables, il est important d utiliser des fortes fluences de Xe. Deuxièmement, l étude de l évolution de la constante diélectriques du SiO2 implanté a montré que l implantation de gaz rares tels que le Kr ou le Xe permet d obtenir un SiO2 à faible constante diélectrique (k~1,4) stable jusqu à 300ů. Cela fait de la technique d implantation une technique attractive pour introduire un nouveau diélectrique à faible-k dans les interconnexions des circuits intégrés. 
650 |a Silice 
650 |a Bulles 
650 |a Gaz rares 
650 |a Diélectriques 
650 |a Thèses et écrits académiques 
700 1 |a Ntsoenzok, Esidor,  |d 19..-  |4 ths 
700 1 |a Ruault, Marie-Odile.  |4 ths 
710 2 |a Université d'Orléans.  |4 dgg 
787 0 8 |i Reproduced as:  |0 246967544  |t Etude des nano-bulles induites par implantation de gaz rares dans l'oxyde de silicium  |o applications  |f par Hanan Assaf-Reda  |d 2006  |c Grenoble  |n Atelier national de reproduction des thèses  |p Microfiches  |s [Grenoble thèses] 
997 |0 241772  |1 Thèse et Mémoire papier  |a Ressource papier  |c 0/Orléans/  |c 1/Orléans/BU Sciences, Technologies, STAPS/  |z Orléans, BU Sciences, Technologies, STAPS, TS 19-2006-30  |z Orléans, BU Sciences, Technologies, STAPS, TS 19-2006-30 b