Gravure profonde cryogénique du silicium dans un réacteur ICP utilisant une chimie SF6/O2 : application pour la mise au point d'un procédé d'isolation électrique sur plaquette SOI

Cette thèse concerne d'une part, l'étude des mécanismes de gravure et de passivation ayant lieu lors de la gravure du silicium (massif et SOI) par un plasma SF6/O2 et d'autre part, la mise au point d'un procédé de gravure profonde optimisé sur un réacteur industriel ICP. L'o...

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Boufnichel, Mohamed, 1973-
Outros autores: Ranson, Pierre (Directeur de thèse)
Formato: Thèse et Mémoire papier
Idioma:Français
Publicado: [S.l.] : [s.n.] 2002.
Sujets:
Nota: Thèse confidentielle jusqu'au 01/01/2005
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Variante du titre:Deep cryogenic etching of silicon in an ICP reactor using a SF6/O2 chemistry mixture and its application in the setting up of an electrical insulation process on SOI (silicon on insulator) wafer

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