High quality test pattern generation and boolean satisfiability
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay t...
Tallennettuna:
| Päätekijät: | , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Livre numérique |
| Kieli: | Anglais |
| Julkaistu: |
New York, NY :
Springer New York
2012.
Cham : Springer Nature |
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| Huomautus: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability, Texte imprimé, 9781441999757 • High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability, Texte imprimé, 9781441999771 • High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability, Texte imprimé, 9781489988478 |