Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has...
Gardado en:
| Auteurs principaux: | , |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado: |
New York, NY :
Springer New York
2011.
Cham : Springer Nature |
| Acceso en liña: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993762 • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993786 • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781489990556 |