Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has...
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| Auteurs principaux: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York, NY :
Springer New York
2011.
Cham : Springer Nature |
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| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993762 • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993786 • Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781489990556 |

