Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has...

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Auteurs principaux: Bhushan, Manjul, Ketchen, Mark B. (Auteur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: New York, NY : Springer New York 2011.
Cham : Springer Nature
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Note: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993762
• Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781441993786
• Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Texte imprimé, 9781489990556

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