X-Ray Microscopy II : Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987
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| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
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Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
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Autre(s) contributeur(s) : Harvey Rarback Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • X-Ray Microscopy II, Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987 |