Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition
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|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Third Edition |