Exemplare: Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Echlin, Patrick
Format:	Livre papier
Sprache:	Anglais
Veröffentlicht:	New York : Springer cop. 2009.
Schlagworte:	Microscopie électronique à balayage > Technique Microanalyse par émission X > Technique
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:	• Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Ressource électronique, by Patrick Echlin., Boston, MA, Springer-Verlag US, Springer e-books, 2009, Chemistry and Materials Science (Springer-11644; ZDB-2-CMS), 978-0-387-85731-2

	Standort	Signatur	Type de prêt	Status
	Généralités Sciences, rez-de-chaussée	502.82 ECH	Empruntable	Verfügbar