Aberration-corrected electron microscopy
保存先:
| その他の著者: | |
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| フォーマット: | Livre papier |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier : Academic Press
2008.
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| シリーズ: | Advances in imaging and electron physics
153 |
| 主題: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
Orléans - BU Sciences Technologies STAPS
| 配架場所 | 請求記号 | Type de prêt | 状態 | |
|---|---|---|---|---|
| Généralités Sciences, rez-de-chaussée | 502.82 ABE | 利用可 |