Power-constrained Testing of VLSI Circuits
Guardado en:
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Lenguaje: | Anglais |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acceso en línea: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Power-constrained testing of VLSI circuits, by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi, Boston, Kluwer Academic Publishers, 2003, xi, 178 p., Frontiers in electronic testing, 1-402-07235-X |