Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bhattacharya, Debashis, Hayes, John P. (Autor)
Formato: Livre numérique
Lenguaje:Anglais
Publicado: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing, 978-1-4612-8819-0

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