Power-constrained Testing of VLSI Circuits
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| Главные авторы: | , |
|---|---|
| Формат: | Livre numérique |
| Язык: | Anglais |
| Опубликовано: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
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| Примечание: |
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| Edition sous un autre format: | • Power-constrained testing of VLSI circuits, by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi, Boston, Kluwer Academic Publishers, 2003, xi, 178 p., Frontiers in electronic testing, 1-402-07235-X |
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