Power-constrained Testing of VLSI Circuits
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| Главные авторы: | , |
|---|---|
| Формат: | Livre numérique |
| Язык: | Anglais |
| Опубликовано: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online-ссылка: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Примечание: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Power-constrained testing of VLSI circuits, by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi, Boston, Kluwer Academic Publishers, 2003, xi, 178 p., Frontiers in electronic testing, 1-402-07235-X |
| Примечание: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9780306487316 |
| Доступ: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |