Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Fformat: | Livre numérique |
| Iaith: | Anglais |
| Cyhoeddwyd: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Mynediad Ar-lein: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nodyn: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Testing Static Random Access Memories, Defects, Fault Models and Test Patterns |
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| 506 | |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales | ||
| 506 | |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement | ||
| 506 | |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 | ||
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