Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Livre numérique |
| Dil: | Anglais |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online Erişim: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Not: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Testing Static Random Access Memories, Defects, Fault Models and Test Patterns |