Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Goldstein, Joseph, 1939-...., chimiste, Michael, Joseph R. (Autore), Lyman, Charles E. (Autore), Joy, David C. (Autore), Lifshin, Eric (Autore), Sawyer, Linda C., 1944- (Autore), Echlin, Patrick (Autore), Newbury, Dale E. (Autore)
Natura: Livre numérique
Lingua:Anglais
Pubblicazione: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Accesso online:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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