Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition
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| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Sprache: | Anglais |
| Veröffentlicht: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online Zugang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Anmerkung: |
Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Third Edition |
| LEADER | 02146nam a22003737a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 955769 | ||
| 008 | 190906q2000 xxe ||| |||| 00| 0 eng d | ||
| 009 | PPN238073750 | ||
| 020 | |a 9781461502159 | ||
| 024 | |a 9781461502159 | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 100 | 1 | |a Goldstein, Joseph, |d 1939-...., |c chimiste. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : |b Third Edition |c Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin [et al.]. |
| 260 | |a Cham : |b Springer International Publishing. | ||
| 260 | |a Cham : |b Springer Nature, |c [20..]. | ||
| 500 | |a Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael | ||
| 500 | |a Archives Springer e-books (Licence nationale) | ||
| 500 | |a Archives Springer e-books (Licence nationale) | ||
| 506 | |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales | ||
| 506 | |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement | ||
| 506 | |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 | ||
| 700 | 1 | |a Michael, Joseph R. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Lyman, Charles E. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Joy, David C. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Lifshin, Eric. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Sawyer, Linda C., |d 1944- |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Echlin, Patrick. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Newbury, Dale E. |4 aut | |
| 776 | 0 | |t Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis |o Third Edition | |
| 856 | 4 | |q PDF |u https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0215-9 |z Accès sur la plateforme de l'éditeur | |
| 856 | 4 | |u https://revue-sommaire.istex.fr/ark:/67375/8Q1-T5N0SZS3-R |z Accès sur la plateforme Istex | |
| 856 | 4 | |5 452349901:748083855 |u https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0215-9 |z Accès Université d'Orléans | |
| 856 | 4 | |5 180339901:75153630X |u https://ezproxy.insa-cvl.fr/login?qurl=https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0215-9 |z Accès INSA CVL | |
| 997 | |0 955769 |1 Livre numérique |a Ressource numérique |b INSA |b ENSA |c 0/Bibliothèque numérique/ |c 1/Bibliothèque numérique/Autre ressource numérique/ | ||