Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition
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| Autores principales: | , , , , , , , |
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| Formato: | Livre numérique |
| Lenguaje: | Anglais |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acceso en línea: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Third Edition |
| Notas: | Autre(s) auteurs(s) : David C. Joy, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Joseph R. Michael Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| ISBN: | 9781461502159 |
| Acceso: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |