Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
In the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructur...
שמור ב:
| מחברים אחרים: | , |
|---|---|
| פורמט: | Livre numérique |
| שפה: | Anglais |
| יצא לאור: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
[20..].
Cham : Springer Nature |
| מהדורה: | 1st ed. 2012. |
| סדרה: | Springer Series in Surface Sciences
48 |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| הערה: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Kelvin probe force microscopy, measuring and compensating electrostatic forces, Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors, 2012, Heidelberg, Springer, 1 vol. (XIV-331 p.), Springer series in surface sciences, 978-3-642-22565-9 |