Physical principles of electron microscopy : an Introduction to TEM, SEM, and AEM
Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indispensable tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology, and the biological and medical sciences. Physical Principles of Electron Microscopy provides an introduction...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Sprache: | Anglais |
| Veröffentlicht: |
New York, NY :
Springer US
2005.
Cham : Springer Nature |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Anmerkung: |
Date de publication d après le site du fournisseur Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Physical Principles of Electron Microscopy, Texte imprimé, 9780387258003 • Physical Principles of Electron Microscopy, Texte imprimé, 9780387507040 • Physical Principles of Electron Microscopy, Texte imprimé, 9781441938374 |
Inhaltsangabe:
- An Introduction to Microscopy
- Electron Optics
- The Transmission Electron Microscope
- TEM Specimens and Images
- The Scanning Electron Microscope
- Analytical Electron Microscopy
- Recent Developments.