Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre papier |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York :
Springer
cop. 2005.
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| Sujets: | |
| Note: |
Autre tirage : 2007 |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Physical principles of electron microscopy, an Introduction to TEM, SEM, and AEM, Ray F. Egerton., New York (N.Y.), Springer, [2006 ?], 978-0-387-26016-7 |
Orléans - BU Sciences Technologies STAPS
| Localisation | Cote | Type de prêt | Statut | |
|---|---|---|---|---|
| Généralités Sciences, rez-de-chaussée | 502.82 EGE | Disponible |