Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langa...
Salvato in:
| Autore principale: | |
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| Natura: | Livre papier |
| Lingua: | Français |
| Pubblicazione: |
Lausanne :
Presses polytechniques et universitaires romandes
cop. 2011.
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| Serie: | METIS LyonTech
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| Soggetti: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Caractérisation microstructurale des matériaux, analyse par les rayonnements X et électronique, Claude Esnouf, Lausanne, Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011, METIS Lyon Tech, 978-2-88914-264-4 |
Sommario:
- Chapitre 1, Eléments de cristallographie
- Chapitre 2, Diffraction par les cristaux
- Chapitre 3, Radiocristallographie X
- Chapitre 4, Diffraction par les rayonnements corpusculaires
- Chapitre 5, Imagerie électronique
- Chapitre 6, Spectroscopies x et électronique
- Annexe A, Réseaux et groupes à deux dimensions
- Annexe B, Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
- Annexe C, Coefficient de Debye-Waller
- Annexe D, Rappels sur la structure électronique d'un atome
- Annexe E, Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel
- Annexe F, Facteur de forme et géométrie du cristal
- Annexe G, Relation facteur de diffusion électronique et potentiel
- Annexe H, Facteur de diffusion électronique dans le modèle Wentzel-Yukawa
- Annexe I, Correcteurs d'abérrations
- Annexe J, Compléments à l'imagerie de haute résolution
- Annexe K, Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes