Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langa...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Médium: | Livre papier |
| Jazyk: | Français |
| Vydáno: |
Lausanne :
Presses polytechniques et universitaires romandes
cop. 2011.
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| Edice: | METIS LyonTech
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| Témata: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Caractérisation microstructurale des matériaux, analyse par les rayonnements X et électronique, Claude Esnouf, Lausanne, Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011, METIS Lyon Tech, 978-2-88914-264-4 |
| Shrnutí: | Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. [source : 4e de couv.] |
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| Fyzický popis: | 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., fig., graph., couv. ill. en coul. ; 24 cm. |
| Bibliografie: | Bibliogr. en fin de chapitres. Notes bibliogr. Index |
| ISBN: | 9782880748845 (br.) : |