Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langa...
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre papier |
| Langue: | Français |
| Publié: |
Lausanne :
Presses polytechniques et universitaires romandes
cop. 2011.
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| Collection: | METIS LyonTech
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| Sujets: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Caractérisation microstructurale des matériaux, analyse par les rayonnements X et électronique, Claude Esnouf, Lausanne, Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011, METIS Lyon Tech, 978-2-88914-264-4 |
Orléans - BU Sciences Technologies STAPS
| Localisation | Cote | Type de prêt | Statut | |
|---|---|---|---|---|
| Technologies, 1er étage | 620.11 ESN | Disponible |