Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Echlin, Patrick
Format: Livre papier
Sprache:Anglais
Veröffentlicht: New York : Springer cop. 2009.
Schlagworte:
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Edition sous un autre format:• Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Ressource électronique, by Patrick Echlin., Boston, MA, Springer-Verlag US, Springer e-books, 2009, Chemistry and Materials Science (Springer-11644; ZDB-2-CMS), 978-0-387-85731-2
Beschreibung
Beschreibung:1 vol. (XI- 330 p.) : ill. , couv. ill en coul. ; 27 cm.
Bibliographie:Bibliogr. p. 317-322. Index.
ISBN:9780387857305 (rel.)
0387857303 (rel.)