Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Médium: | Livre papier |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
New York :
Springer
cop. 2005.
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| Témata: | |
| Poznámka: |
Autre tirage : 2007 |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Physical principles of electron microscopy, an Introduction to TEM, SEM, and AEM, Ray F. Egerton., New York (N.Y.), Springer, [2006 ?], 978-0-387-26016-7 |