Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Egerton, Ray F.
Materyal Türü: Livre papier
Dil:Anglais
Baskı/Yayın Bilgisi: New York : Springer cop. 2005.
Konular:
Not: Autre tirage : 2007
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Physical principles of electron microscopy, an Introduction to TEM, SEM, and AEM, Ray F. Egerton., New York (N.Y.), Springer, [2006 ?], 978-0-387-26016-7
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