Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Livre papier |
| Sprache: | Anglais |
| Veröffentlicht: |
New York :
Springer
cop. 2005.
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| Schlagworte: | |
| Anmerkung: |
Autre tirage : 2007 |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Physical principles of electron microscopy, an Introduction to TEM, SEM, and AEM, Ray F. Egerton., New York (N.Y.), Springer, [2006 ?], 978-0-387-26016-7 |
| Beschreibung: | Autre tirage : 2007 |
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| Beschreibung: | 1 vol. (XII-202 p.) : ill. ; 25 cm. |
| Bibliographie: | Références bibliogr. p. [195]-196. Index |
| ISBN: | 0387258000 (rel.) : 9780387258003 |