Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électroni...
Tallennettuna:
| Julkaisussa: | URI:https://journals.openedition.org/techne, |
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| Aineistotyyppi: | Article ou chapitre numérique |
| Kieli: | Français |
| Julkaistu: |
Technè
2019
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| Linkit: | Accès Université d'Orléans et IFPM Accès Université d'Orléans et IFPM |