Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électroni...
Salvato in:
| Pubblicato in: | URI:https://journals.openedition.org/techne, |
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| Natura: | Article ou chapitre numérique |
| Lingua: | Français |
| Pubblicazione: |
Technè
2019
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| Accesso online: | Accès Université d'Orléans et IFPM Accès Université d'Orléans et IFPM |
| Riassunto: | Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électronique à balayage à canon à émission de champ (MEB-FEG)*.High resolution digital photography : Photographie numérique en haute résolution.Infrared (IR) false colour photography : Photographie dans l’i... |
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