Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro

Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro

Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électroni...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Pubblicato in:URI:https://journals.openedition.org/techne,
Natura: Article ou chapitre numérique
Lingua:Français
Pubblicazione: Technè 2019
Accesso online:Accès Université d'Orléans et IFPM
Accès Université d'Orléans et IFPM
id openedition-oai:revues.org:techne_568
record_format openedition
spelling openedition-oai:revues.org:techne_568 https://doi.org/10.4000/techne.568 urn:doi:10.4000/techne.568 fr https://journals.openedition.org/techne/568 2019-12-19T01:00:00Z info:eu-repo/semantics/openAccess article info:eu-repo/semantics/article urn:handle:20.500.13089/l8on https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électronique à balayage à canon à émission de champ (MEB-FEG)*.High resolution digital photography : Photographie numérique en haute résolution.Infrared (IR) false colour photography : Photographie dans l’i... Technè C2RMF info:eu-repo/semantics/reference/issn/2750-6185 info:eu-repo/semantics/reference/issn/1254-7867 URI:https://journals.openedition.org/techne
collection OpenEdition Journal
language Français
format Article ou chapitre numérique
building 0/Bibliothèque numérique/
1/Bibliothèque numérique/OpenEdition Journals/
description Méthodes d’examen – Examination methodsAFM (Atomic force microscopy) : Microscopie à force atomique.DHSPI (Digital Holographic Speckle Pattern Interferometry) : Holographie numérique et interférométrie de Speckle.FEG-SEM (Scanning electron microscopy with field emission gun) : Microscopie électronique à balayage à canon à émission de champ (MEB-FEG)*.High resolution digital photography : Photographie numérique en haute résolution.Infrared (IR) false colour photography : Photographie dans l’i...
title Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
spellingShingle Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
title_short Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
title_full Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
title_fullStr Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
title_full_unstemmed Répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
title_sort répertoire des techniques d’examen et d’analyse des œuvres du patrimoine culturel citées dans ce numéro
publisher Technè
publishDate 2019
container_title URI:https://journals.openedition.org/techne
url https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://doi.org/10.4000/techne.568
https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://journals.openedition.org/techne/568
_version_ 1877294137854656512

Documenti analoghi