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RésuméLe centenaire de la première version de l’échelle métrique d’Alfred Binet et de Théodore Simon (1905), qui a été le premier véritable test d’intelligence, a été célébré lors d’un congrès international qui s’est tenu à Paris, en octobre 2005, sur le thème de l’intelligence de l’enfant. Ce congr...
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|---|---|
| Format: | Article ou chapitre numérique |
| Langue: | Français |
| Publié: |
2006
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