Cent ans après Binet : quoi de neuf sur l'intelligence de l'enfant ?

RésuméLe centenaire de la première version de l’échelle métrique d’Alfred Binet et de Théodore Simon (1905), qui a été le premier véritable test d’intelligence, a été célébré lors d’un congrès international qui s’est tenu à Paris, en octobre 2005, sur le thème de l’intelligence de l’enfant. Ce congr...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Lautrey, Jacques
Formatua: Article ou chapitre numérique
Hizkuntza:Français
Argitaratua: 2006
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Accès Université d'Orléans et IFPM
Accès Université d'Orléans et IFPM

Internet

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