Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | Beenker, F. P. M., Bennetts, R. G. (Autor), Thijssen, A. P. (Autor) |
|---|---|
| Médium: | Livre numérique |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| On-line přístup: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Poznámka: |
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| Edition sous un autre format: | • Testability Concepts for Digital ICs, The Macro Test Approach |
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