Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach

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Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Beenker, F. P. M., Bennetts, R. G. (Autor), Thijssen, A. P. (Autor)
Médium: Livre numérique
Jazyk:Anglais
Vydáno: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
On-line přístup:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Poznámka: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Testability Concepts for Digital ICs, The Macro Test Approach

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