Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach
Kaydedildi:
| Asıl Yazarlar: | , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Livre numérique |
| Dil: | Anglais |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online Erişim: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Not: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Testability Concepts for Digital ICs, The Macro Test Approach |