Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Berlin [etc.] :
Springer
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Collection: | Lecture notes in physics
204 |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials, Texte imprimé, 9783540133599 • Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials, Texte imprimé, 9783662173701 |