Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy
Novel scanning probe microscopy (SPM) techniques are used for the characterization of local materials functionalities ranging from chemical reactivity and composition to mechanical, electromechanical, and transport behaviors. In this comprehensive overview, special emphasis is placed on emerging app...
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| Médium: | Livre numérique |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
New York, NY :
Springer New York : Springer e-books
[20..].
Cham : Springer Nature |
| On-line přístup: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Poznámka: |
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| Edition sous un autre format: | • Scanning Probe Microscopy of Functional Materials, Texte imprimé, 9781441965677 |