Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy

Novel scanning probe microscopy (SPM) techniques are used for the characterization of local materials functionalities ranging from chemical reactivity and composition to mechanical, electromechanical, and transport behaviors. In this comprehensive overview, special emphasis is placed on emerging app...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Kalinin, Sergei V. (Éditeur intellectuel)
Autres auteurs: Gruverman, Alexei, 19..- (Éditeur intellectuel)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: New York, NY : Springer New York : Springer e-books [20..].
Cham : Springer Nature
Accès en ligne:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Note: L'impression du document génère 562 p.
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Scanning Probe Microscopy of Functional Materials, Texte imprimé, 9781441965677

En ligne

Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL